RLE-System im Überblick

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RLE plane mirror dual axis system Das interferometrische Laser-Wegmess-System RLE von Renishaw bietet die Positioniergenauigkeit eines interferometrischen Systems kombiniert mit der einfachen Verwendung, wie sie von herkömmlichen Mess-Systemen mit Glasmaßstab oder Maßband bekannt ist.

Die einfache Systemarchitektur wird durch ein Glasfaserübertragungssystem erreicht, mittels dessen der Laserstrahl direkt zur Messachse geleitet werden kann; hierdurch können mehrfache Umlenkspiegel, Strahlteiler, Justage- oder Montageelemente vermieden werden. Durch diese Veränderung der Interferometer-Systemarchitektur lässt sich das System in wenigen Minuten mit geringerem Platzbedarf und niedrigeren Kosten installieren.

Jedes RLE-System beinhaltet zwei Hauptteile: die RLU-Lasereinheit und den RLD10-Detektorkopf. Diese Hauptkomponenten sind in verschiedenen, vom Benutzer wählbaren Konfigurationen erhältlich. Renishaw stellt auch Retroreflektoren zur Verwendung mit Retroreflektor-Detektoren bereit und kann außerdem Spiegel und Halterungen für Planspiegelanwendungen liefern.

Laser encoder product montage Renishaw ist auf dem Gebiet der homodynen Interferometrie seit 1985 tätig.

Das erste Laser-Wegmess-System, der HS10, wurde 1994 auf spezifische Nachfragen nach einer laserbasierten Wegmess-Lösung auf den Markt gebracht. Der in rauen Produktionsumgebungen weltweit bewährte HS10 ist die bevorzugte Interferometer-Lösung für eine Vielzahl verschiedener Anwendungen auf langachsigen Werkzeugmaschinen.

Um die Anwendungsmöglichkeiten auch auf kleinere Maschinen auszuweiten, wurde später das laserbasierte Wegmess-System RLE konzipiert, das interferometrische Leistung mit der einfachen Handhabung von Wegmess-Systemen kombiniert. Die erste Generation von RLE10-Systemen wurde 2001 auf den Markt gebracht; hierzu wurden seitdem zusätzliche Laserquellen, Interferometerkonfigurationen und Interface-Einheiten entwickelt.

RLU Lasereinheiten

RLU dual axis laser unit Die RLU-Lasereinheit, die als Einzel- oder Doppelachsenkonfiguration erhältlich ist, enthält eine HeNe (Helium/Neon)-Laserquelle, Elektronik zur Stabilisierung, Glasfaseranbindung und Elektronik zur Bestimmung der Achsenposition. RLU-Lasereinheiten sind mit zwei Spezifikationen für die Frequenzstabilität verfügbar: Der RLU10 verfügt über eine Laser-Frequenzstabilität von ±50 nm/m über eine Stunde, die in allen RLE10-Systemen verwendet wird, während der RLU20 eine Laser-Frequenzstabilität von ±2 nm/m über eine Stunde aufweist, die in allen RLE20-Systemen eingesetzt wird.

Standardsysteme verfügen über eine 3 m lange Glasfaser, die den RLD10 -Detektorkopf mit der RLU-Lasereinheit verbindet.

 

RLD10 Detektorkopf mit 0°-Ausgang

RLD10 0° launch detector head Dieser Detektorkopf enthält ein Retroreflektorsystem oder einen Planspiegelinterferometer (für Retroreflektor- bzw. Planspiegelanwendungen), eine einzigartige mehrkanalige Strahlerkennungselektronik, eine Ausgangsoptik und eine integrierte Strahlsteuerung.

Eine zweite Variante des Detektorkopfes mit 0°-Ausgang ist ohne Interferometer erhältlich. Bei dieser Konfiguration kann ein RLE-System mit den Optiken für Positionsmessung, Kippwinkelmessung und Geradheitsmessung verwendet werden.

 

RLD10 Detektorkopf mit 90°-Ausgang

RLD10 90° launch detector head Dieser Detektorkopf enthält ein Retroreflektorsystem oder einen Planspiegelinterferometer (für Retroreflektor- bzw. Planspiegelanwendungen), eine einzigartige mehrkanalige Strahlerkennungselektronik, eine Ausgangsoptik und eine integrierte Strahlsteuerung. Der Detektorkopf kann entweder an der Ober- oder Unterseite für einen Strahlausgang in einem Winkel von 90° oder 270° montiert werden.

 

RLD10 DI (Differenzialinterferometer-) Detektorkopf

RLD10-X3-DI differential interferometer and mirrors Der Detektorkopf RLD10 DI enthält Differenzialinterferometer-Optiken (Column Reference), eine einzigartige mehrkanalige Strahlerkennungselektronik und integrierte Strahlsteuerungen, die eine unabhängige Kipp- und Gierwinkelausrichtung des Mess- und Referenzstrahles ermöglichen.

Hinweis: Der RLD10 DI Detektorkopf kann nur mit Planspiegelanwendungen verwendet werden.

RPI20 Parallel-Interface

RPI20 parallel interface Das RPI20 nimmt analoge Sinus-/Kosinus-Differenzsignale mit 1 Vss an und liefert eine 4.096-fache Interpolation für eine 36-Bit-Ausgabe im Parallelformat mit einer Auflösung von 38,6 pm bei 1 m/s.Weitere Informationen und Spezifikationen finden Sie unter Zubehör.

 

RCU10 Echtzeit-Kompensationssystem

RCU10 compensator unit and sensors Das RCU10 verwendet Umgebungssensoren zur Überwachung der Maschinenumgebung und zur Echtzeit-Kompensation der Positionssignale. Weitere Informationen und Spezifikationen finden Sie unter Zubehör.

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