AFM-Raman-System

Erweitern Sie Ihr Wissen in Bezug auf Nanobereiche

Kombinierte AFM/Raman Instrumente (auch bekannt als SPM-Raman) ermöglichen eine verbesserte Probenanalyse durch eine Untersuchung der chemischen und strukturellen Materialeigenschaften im Submikrometerbereich.

Dank der von Renishaw entwickelten optimierten, direkten Kopplungstechnologie eignet sich das inVia Raman Mikroskop ideal zur Kombination mit unterschiedlichen SPMs (Rastersonden-Mikroskope) von verschiedensten Herstellern und bietet damit spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie (TERS), Nahfeld-Verfahren (SNOM, NSOM) sowie Raman-AFM.

Das inVia Raman Mikroskop kann prinzipiell an jedes SPM bzw. AFM aller Hersteller angekopplet werden. Voll integrierte Systeme und Scanner sind von NT-MDT und Nanonics Imaging Ltd verfügbar.

Nanotechnologische Bildgebungs-, Visualisierungs- und Analysesysteme für Forschung und Industrie

Maximierung der Produktivität

Nur Renishaw bietet voll integrierte Systeme mit Scannern von NT-MDT und Nanonics Imaging Ltd.  AFM-Raman-Systeme von Renishaw bieten:

• Mehr Zeit zum Messen - die Mechanik und Software ist bereits voll integriet, wodurch Ihnen mehr Zeit bleibt, sich auf die Datenerfassung und -analyse zu konzentrieren.
• Schnellere Datenerfassung - Effizienz zwischen Probe und Raman-Spektrometer durch optimales und bewährtes Zusammenspiel aller Komponenten.
• Vertrauen Sie den Experten - an Renishaw Ramansystemen wurden die ersten TERS-Messungen an Halbleiter-Bauelementen (veröffentlicht 2001) sowie die ersten Raman-AFM/NSOM-Messungen (veröffentlicht 1995) überhaupt durchgeführt.
• Ihre Wahl - Renishaw verfügt über Erfahrung und Sachwissen zur Integration des von Ihnen gewählten SPM-Systems.

Welchen Vorteil bringt Ihnen das Raman-SPM-System von Renishaw?

AFM mit Raman
Schnelle Erfassung von Rastersondendaten mit hoher räumlicher Auflösung und von Fernfeld-Raman-Daten (typischerweise Submikrometer-Auflösung). Die Raman-Daten werden mit den räumlich hochauflösenden topographischen, elektrischen, thermischen und Nahfelddaten korreliert.

Mittels Raman-Analyse der Graphene-Probe (siehe Abbildung rechts) wurden fünf unterschiedliche Graphene-Schichten identifiziert, einschließlich Mono- und Doppelschichtbereiche. Aus den Raman-Daten wurden SPM-Experimente abgeleitet, sodass topographische, Leitwert- und Leitfähigkeitsmessungen in den relevanten Bereichen auf der Probe durchgeführt werden können.

TERS (oder Nahfeld-Raman ohne aperture)
Eine Spitze wird zur Verstärkung des Raman-Signals in einem stark eingegrenzten Bereich der Probe (innerhalb eines größeren, durch Laserlicht beleuchteten Bereichs) verwendet. Diese Konfiguration bietet die höchste räumliche Auflösung aller Raman-Techniken.

Die überragende räumliche Sensitivität von TERS kann anhand von Schichtmaterialien veranschaulicht werden.  Die rechts stehende Abbildung vergleicht Nahfeld- (TERS) und Fernfeldspektren einer dünnen Siliciumschicht auf SiGe. Die hohe Oberflächensensitivität (TERS) generiert eine sehr viel stärkere Silicium-Raman-Bande (bei einer niedrigeren Raman-Frequenz im Vergleich zur SiGe-Raman-Bande von tieferliegenden Schichten (Bulk)).

Sie möchten wissen, wie Sie Ihre Kenntnisse in Bezug auf Nanobereiche erweitern können, oder möchten mehr über die Integrierung von SPM bzw. AFM-Modellen mit dem inVia Raman-Mikroskop erfahren, dann füllen Sie bitte das Online-Anfrage-Formular aus oder kontaktieren Ihre Renishaw-Raman-Vertretung.

Anwendungen

Entdecken Sie die vielfältigen Anwendungsmöglichkeiten der Raman-Systeme von Renishaw

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