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Planspiegelsystem (X-Y)

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Dual axis plane mirror application RLE-Planspiegelsysteme (X-Y) umfassen eine zweiachsige RLU-Lasereinheit und zwei Detektorköpfe zur Verwendung mit Planspiegeln. Die Wahl der Lasereinheit hängt sehr stark von der Betriebsumgebung ab, wobei sich die Einheit RLU20 insbesondere für Anwendungen im Vakuum und kontrollierten Umgebungen eignet.

Spezifikationen

Datenformat Digital - RS422 Rechtecksignal
Analog - 1 Vss Sinus/Kosinus
Auflösung Digital - einstellbar bis 10 nm (mit Planspiegel)
Analog - unter einem Nanometer über externe Interpolation (z. B. RPI20 Parallel-Interface)
Maximale Geschwindigkeit 1 m/s bei Verwendung eines Planspiegels
Lasertyp HeNe (Helium/Neon), 632,8 nm Wellenlänge, Klasse II 
Frequenzstabilität des Lasers ±50 nm/m (RLU10) über einen Zeitraum von einer Stunde
±2 nm/m (RLU20) über einen Zeitraum von einer Stunde
Lebensdauer des Lasers >50.000 Stunden
Maximale Achslänge 1 m bei Verwendung eines Planspiegels

Für nicht Vakuum Anwendungen ist eine Kompensation des Brechungsindexes erforderlich. Renishaw bietet das RCU10 Echtzeit-Kompensationssystem zum Ausgleich dieser Veränderungen an.

Mit Hilfe eines RPI20 Parallel-Interface können Auflösungen bis 38,6 pm erzielt werden. Dieses Interface wandelt analoge Sinus-/Kosinus Differenzsignale mit 1 Vss in Digitalsignale im Parallelformat um. Unter Zubehör finden Sie Informationen zum RCU10-Kompensationssystem, dem RPI20 und anderem Zubehör zur Verwendung mit RLE-Systemen und dem HS10 Laser-Wegmess-System.

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