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ATOM DX™ Messsysteme

ATOM DX ist das kleinste optische Inkremental-Messsystem von Renishaw. Es bietet digitale Ausgangssignale in Auflösungen von bis zu 2,5 Nanometern direkt vom Abtastkopf. Positionsmessung, integrierte Interpolation und Filteroptik sind alle in ein und demselben Miniaturmesssystem untergebracht.

ATOM DX baut auf dem am Markt bewährten Optiksystem der ATOM™ Messsystem-Plattform auf und ist mit der hochleistungsfähigen Interpolationstechnologie von Renishaw ausgestattet. Es bietet den Vorteil, dass keine zusätzlichen Adapter und Schnittstellen erforderlich sind. ATOM DX ist für die meisten platzkritischen Anwendungen geeignet, die keine Abstriche bei der Leistungsfähigkeit erlauben.

Dank der integrierten Einstell-LED von Renishaw und dem intuitiven und einfachen Installationsvorgang mithilfe der bewährten automatischen Kalibrierroutine ist ATOM DX direkt nach dem Auspacken einsatzbereit. ATOM DX ist mit dem optionalen Advanced Diagnostic Tool ADTi-100 und der Software ADT View erhältlich: Sie bieten detaillierte Diagnoseinformationen und helfen bei der optimalen Installation des Messsystems und der sofortigen Fehlersuche, um selbst schwierigste Motion Control-Anwendungen zu handhaben.

ATOM DX Abtastköpfe können mit verschiedenen linearen, rotativen und Teilkreis-Maßverkörperungen verwendet werden und eignen sich damit für die meisten Anforderungen. Sie sind in zwei Varianten erhältlich: mit seitlichem Kabelausgang und oberem „Top Exit“-Ausgang sowie Maßverkörperungen mit wahlweise 20 µm oder 40 µm Teilungsperiode.

Volle Leistung gebündelt in einem Miniaturkopf

Piktogramm Miniaturbauweise

ATOM DX eignet sich für Anwendungen kleinster Größen mit Höhen von nur 7,85 mm. Die Variante mit oberem Anschluss bietet alle Vorteile und Merkmale des ATOM DX Messsystems mit Kabelanschluss in sogar noch kleinerer Baugröße. Die Top Exit-Variante ist ein mehrteiliges Messsystem, dessen Kabeleinheit gesondert am Abtastkopf eingebaut wird. ATOM DX in dieser Variante ist daher besonders platzsparend.

Geschwindigkeitsvorteil

Piktogramm Geschwindigkeit

ATOM DX bietet Geschwindigkeiten von bis zu 20 m/s und eine Reihe von Interpolationsoptionen.

Verbesserte Geschwindigkeitsstabilität

Piktogramm Zyklischer Fehler (SDE)

ATOM DX verfügt über Renishaws neueste Interpolationstechnologie, mit aktualisierten Signalverarbeitungsalgorithmen zur Reduzierung des zyklischen Fehlers (SDE). Dadurch werden Gleichlaufschwankungen reduziert und die Rückmeldungen im geschlossenen Regelkreis von Antriebssystemen verbessert.

Finden Sie die passende ATOM DX Maßverkörperung

Linear

MaßverkörperungProduktnameGenauigkeit

Teilungsperiode

Thermischer Ausdehnungskoeffizient bei 20 °C

Max. Länge der Maßverkörperung

Glasmaßstab

RSLC Maßband

RCLC

±3 µm20 µm/40 µm~8 µm/m/°CBis 130 mm

Maßband aus Edelstahl

RTLF20 Maßband

RTLF

20 µm: ±5 µm/m

40 µm (hohe Genauigkeit): ±5 µm/m
40 µm: ±15 µm/m

20 µm/40 µm~10,1 ±0,2 µm/m/°C

Bis 10 m (> 10 m auf Anfrage)

Schmales Edelstahlmaßband

RKLF Maßband
RKLF-S

20 µm: ±5 µm/m

40 µm (hohe Genauigkeit): ±5 µm/m

40 µm: ±15 µm/m

20 µm/40 µm

Wie Installationsuntergrund, wenn Maßbandenden mit Endklemmen fixiert sind

Bis 10 m (> 10 m auf Anfrage)

Teilrotation

Maßverkörperung

Produktname

Genauigkeit

Teilungsperiode

Thermischer Ausdehnungskoeffizient bei 20 °C

Max. Länge der Maßverkörperung

Schmales Edelstahlmaßband für Teilkreismessungen

RKLF Teilkreis-Maßverkörperung
RKLF-S

±15 µm/m


40 µm

10,1 ±0,2 µm/m/°C

Bis 10 m (> 10 m auf Anfrage)



Rotativ

Maßverkörperung

Produktname

Teilungsperiode

Thermischer Ausdehnungskoeffizient bei 20 °C

Scheiben-Außendurchmesser

Glasscheibe

RCDM Maßband (Maßverkörperungsseite)

RCDM

20 µm/40 µm

~8 µm/m/°C17 mm bis 108 mm

CENTRUM™ Edelstahlscheibe

CENTRUM™ CSF40 Rasterscheibe

CSF4040 µm15,5 ±0,5 µm/m/°C

Montagemöglichkeiten:

Schrauben: 38,4 mm bis 120 mm

Klemmen: 31 mm bis 120 mm

Bezüglich anderer Größen bitte Renishaw kontaktieren