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Konfokales Raman-Mikroskop inVia™ InSpect

Unser Bestseller unter den Raman-Mikroskopen, optimiert für den Einsatz in der Spurenanalyse kriminaltechnischer Labore.

Erweitern Sie Ihr Labor um die Raman-Spektroskopie, damit Sie zusätzliche leistungsstarke Funktionen erhalten, die Ihre vorhandenen Techniken ergänzen. Die Analyse ist berührungs- und zerstörungsfrei und ermöglicht, anhand eines optischen Forschungsmikroskops feine chemische Details zu sehen.

Sie können Proben, wie beispielsweise hartkristalline Pulver, Keramikscherben und Glassplitter, die mit anderen Techniken nur sehr schwer oder mit hohem Zeitaufwand identifizierbar sind, einfach analysieren – ohne besondere Vorbereitung.

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inVia Inspect Raman-Mikroskop

Merkmale

Vorteile des inVia InSpect Raman-Mikroskops:

  • Hochspezifische Identifizierung – Die Raman-Mikroskopie kann chemische Strukturen unterscheiden, selbst eng verwandte.
  • Hohe räumliche Auflösung – Ihren anderen Mikroskopietechniken ebenbürtig
  • Auswahl an mikroskopischen Kontrastverfahren – einschließlich Hellfeld-, Dunkelfeld- und Polarisationskontrast mit Auflicht- und Durchlichtbeleuchtung
  • Partikelanalyse – fortgeschrittene Bilderkennungsalgorithmen und Gerätesteuerungsfunktionen zur Charakterisierung von Partikelverteilungen
  • Korrelative Bildgebung – Erstellung von zusammengesetzten Bildern durch die Kombination von Raman-Daten mit Bildern aus anderen Mikroskopietechniken

Für zusätzliche Details können Sie sich die inVia InSpect Broschüre herunterladen.

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Raman-Image einer Ecstasy-Tablette

Empty Modelling™

Empty Modelling Software verwendet ein multivariates Analyseverfahren, um komplexe Daten in seine Bestandteile zu zerlegen. Verwenden Sie dies, in Verbindung mit der Durchsuchung von Bibliotheken, um Daten von Proben zu analysieren, die unbekannte Materialien enthalten.

inVia Raman-Mikroskop Objektiv

StreamHR™ Mapping

StreamHR Mapping verbindet den Betrieb des InSpekt Mikroskop Hochleistungs-Detektors mit dem MS30 Mikroskopstisch. Es erhöht die Geschwindigkeit der Datenerfassung und spart Zeit bei der Generierung von Images.

inVia InSpect Raman-Mikroskop

Vollautomatisierung

Sie können die Ausrichtung, Kalibrierung und Konfigurationen durch Renishaws WiRE Software steuern. Sie können, zum Beispiel, schnell — mit nur einem Klick — zwischen Probenbetrachtung und Raman-Analyse umschalten.

Anwendungen

Probenentnahme Nachweis von Schmauchspuren

Schmauchspuren

Das inVia InSpect Mikroskop bietet ein umfassendes Paket für die Analyse von Schmauchspuren, ungeachtet von deren Herkunft; es bietet Vorteile für den Nachweis und die Identifizierung von sowohl organischen als auch nichtorganischen Rückständen. In diesem Hinweis erkunden wir einige der wichtigsten Merkmale und Vorteile der Raman-Technik für die Schmauchspur-Analyse.

Den Anwendungshinweis herunterladen

Die Analyse von Tinte bei der Urkundenfälschung

Urkundenfälschung

Es gibt viele verschiedene Arten von Tinte; die Farben mögen die gleichen sein, aber chemisch können große Unterschiede bestehen. Die Raman-Analyse, unter Verwendung des inVia Raman-Mikroskops, ermöglicht eine schnelle, zerstörungsfreie Prüfung der in Frage gestellten Bereiche mit der Spezifität, ähnliche Arten von Tinte, die optische identisch sind, zu unterscheiden.

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Mit LiveTrack den Fokus in Echt
zeit beibehalten

Das inVia InSpect Mikroskop verwendet die automatisierte Fokusnachführungstechnologie LiveTrack™, um präzise und wiederholgenaue Spektren und Topographie von Proben mit großen Höhenunterschieden in Echtzeit zu erfassen. Erzeugen Sie beeindruckende 3D Bilder von unebenen, gekrümmten oder rauen Oberflächen ohne Vorscannen. Schauen Sie sich das Beispiel im Video an.

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Downloads: inVia InSpect Raman-Mikroskop

Spezifikationen

Parameter

Wert
Bereich der Wellenlänge200 nm bis 2200 nm
Unterstützte LaserVon 229 nm bis 1064 nm
Spektrale Auflösung0,3 cm-1 (FWHM)
Höchster, typisch notwendiger Wert: 1 cm-1
Stabilität< ±0,01 cm-1Schwankung in der Mittenfrequenz von einem angepassten Si 520 cm-1 Band, nach Wiederholungsmessungen. Wurde anhand einer spektralen Auflösung von 1 cm-1 oder höher erreicht
Untere Wellenzahl-Grenze5 cm-1Niedrigster, typisch notwendiger Wert: 100 cm-1
Obere Wellenzahl-Grenze30.000 cm-1Standard: 4.000 cm-1
Räumliche Auflösung (lateral)0,25 µmStandard: 1 µm
Räumliche Auflösung (axial)< 1 µmStandard: < 2 µm. Abhängig von Objektiv und Laser
Detektorgröße (Standard)1024 Pixel × 256 PixelAndere verfügbare Optionen
Betriebstemperatur Detektor-70 °C
Unterstützte Rayleigh FilterUnbegrenztBis zu vier Filtersets in automatischer Aufnahme. Unbegrenzte Anzahl zusätzlicher Filtersets unterstützt durch vom Nutzer umschaltbare kinematische Aufnahmen mit präziser Fixierung.
Anzahl unterstützter LaserUnbegrenztStandardmäßig einer. Zusätzliche Laser, über 4 hinaus, müssen auf einem optischen Tisch montiert werden
Gesteuert über Windows PCWindows® PC nach neuester SpezifikationEnthält PC-Workstation, Bildschirm, Tastatur und Trackball
Versorgungsspannung110 V AC bis 240 V AC +10% -15%
Netzfrequenz50 Hz oder 60 Hz
Typischer Energieverbrauch (Spektrometer)150 W
Tiefe (Dual-Lasersysteme)930 mmDual-Laser Grundplatte
Tiefe (Dreifach-Lasersysteme)1116 mmDreifach-Laser Grundplatte
Tiefe (Kompakt)610 mmBis zu drei Laser (je nach Lasertyp)
Typische Masse (ohne Laser)90 kg