Raman-Bildgalerie

Alle Bilder auf dieser Seite wurden mittels des inVia Raman-Mikroskop von Renishaw mit der Software WiRE™ erzeugt. Diese Beispiele stellen lediglich eine begrenzte Auswahl der umfassenden Imaging-Fähigkeiten, die dem Anwender dieser Systeme zur Verfügung stehen, dar.

Renishaw Kunden haben die Möglichkeit ihre Raman-Bilder in der Galerie anzeigen zu lassen. Kontaktieren Sie hierzu bitte Ihre Renishaw Niederlassung.

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Pharmazeutische Tablette

Das Lösungsverhalten der Tablette im Zusammenhang mit der Verteilung und Konzentration der Tablettenkomponenten

Tablette_Charge1 Tablette aus Chargenfertigung 1

StreamLine™ Plus Bild zeigt die Verteilung der Bestandteile einer pharmazeutischen Tablette

Map-Fläche: 6 mm x 12 mm

Erzeugte Spektren: 82,000

Erfassungszeit: 38 Minuten

Tabletten_Charge2 Tablette aus Chargenfertigung 2

StreamLine™ Plus Bild zeigt die Verteilung der Bestandteile einer pharmazeutischen Tablette

Map-Fläche: 6 mm x 12 mm

Erzeugte Spektren: 82,000

Erfassungszeit: 38 Minuten

Mehrschichtige Graphen-Probe

Raman-Bild einer mehrschichtigen Graphen-Probe Monoschicht, Doppelschicht und andere mehrschichtige Bereiche wurden im Graphen identifiziert

StreamLine™ Plus Bild zeigt die Verteilung der unterschiedlich dicken Schichten in dem Graphensplitter

Map-Fläche: 110 µm x 120 µm

Erzeugte Spektren: 40,000

Erfassungszeit: 14 Minuten

CVD Diamantfilm

Polierter CVD Diamantfilm Polierte Oberfläche eines polykristallinen Diamantfilms, der mittels CVD-Technik hergestellt wurde

Die Bilder geben Informationen bezüglich der Kristallform, Orientierung, Spannungen und Defektdichte an.

Map-Fläche: 175 µm x 88 µm

Erzeugte Spektren: 51,200

Erfassungszeit: Zwei Imaging Experimente, jeweils 15 Minuten (erste Messung zur Erzeugung von drei Raman-Bildern, zweite Messung zur Erzeugung einer Fotolumineszenzaufnahme).

Bild 1: Raman-Bild zeigt 1 cm-1 Abweichung der Position der 1332 cm-1 Diamant-Ramanbande

Bild 2: Raman-Bild zeigt 2 cm-1 Abweichung der Breite der 1332 cm-1 Diamant-Ramanbande

Bild 3: Raman-Bild zeigt Abweichung der Peakfläche der 1332 cm-1 Diamant-Ramanbande

Bild 4: Photolumineszenzaufnahme zeigt Abweichung der Intensität der 1.68 eV neutralen Silizium-Leerstellen [Si-V]0 Bande.

Mikroindentation in Siliziumscheibe

Siliziumeinkerbung - Darstellung der Peak-Position Peak-Position

Peak-Position abgeleitet aus der Kurvenanpassungsanalyse

Map-Fläche: 10 µm x 10 µm

Erzeugte Spektren: 10,000

Erfassungszeit: 36 Minuten

Scandetails: 100 nm Schritt erreicht mit piezoelektrischem Scanning-Tisch

Siliziumeinkerbung - Darstellung der Peakfläche Peakbreite

Peakbreite abgeleitet aus der Kurvenanpassungsanalyse

Sandstein aus dem Loch Torridon, Schottland

Sandstein aus dem Loch Torridon StreamLine™ Plus Bild zeigt die Verteilung von Anatas (TiO2) (rot), Quarz (SiO2) (grün) und Eisenoxid (Fe2O3) (blau)

Querschnittsbereich: 500 µm x 320 µm

Erzeugte Spektren: 67,200

Erfassungszeit: 20 Minuten

Polymerlaminat (PS und PMMA)

Polymerlaminat (PS und PMMA) StreamLine™ Plus Bild eines Polymerlaminat-Musters, das die Verteilung von PMMA (rot), Epoxid (grün) und PS (blau) aufzeigt

Map-Fläche: 240 µm x 645 µm

Erzeugte Spektren: 17,200

Erfassungszeit: 7 Minuten

Verspannte Si-Ge Kreuzschraffur

Si-Ge_Kreuzschraffur StreamLine™ Plus Bild eines Si-Ge Halbleiters, der eine verspannte Struktur aufweist. Auf der Map sind Abweichungen der Si-Si 510 cm-1 Bandposition (~0,2 cm-1 Bandenverschiebung in Bezug auf die Lage) zu erkennen. Die Map-Daten wurden mittels Kurvenanpassung erzeugt.

Map-Fläche: 129 µm x 130 µm

Erzeugte Spektren: 55,000

Erfassungszeit: 13 Minuten

Zahnschnitt

Raman-Bild eines Zahns StreamLine™ Plus Bild eines Zahnschnittes, wobei der Zahnschmelz (grün), das Dentin (blau) und die Bereiche mit hoher Fluoreszenz (rot) hervorgehoben werden.

Map-Fläche: 9 mm x 16 mm

Erzeugte Spektren: 84,000

Erfassungszeit: 20 Minuten

Laserinduzierte kristalline Siliziumspuren

Laserinduzierte kristalline Siliziumspuren auf einem amorphen Substrat StreamLine™ Plus Bild von laserinduzierten kristallinen Siliziumspuren auf einem amorphen Substrat

Map-Fläche: 550 µm x 550 µm

Erzeugte Spektren: 70,000

Erfassungszeit: 17 Minuten

Detailansicht der Siliziumspuren Vergrößerter Bereich (~ 250 µm x 250 µm) des obenstehenden Bilds

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