ATOM™ Messsysteme
Was ist das ATOM Messsystem?
Die ATOM Baureihe ist Renishaws inkrementelles Miniaturmesssystem für die berührungslose, optische Weg- und Winkelmessung. Sein innovatives Design verbindet Größenvorteile mit herausragender Signalstabilität, Verschmutzungstoleranz und Zuverlässigkeit. Es bedeutet einen enormen Fortschritt hinsichtlich der Leistung und Zuverlässigkeit von Miniaturmesssystemen. Dieses Messsystem ist zudem das schnellste seiner Klasse, mit Höchstgeschwindigkeiten bis 20 m/s.
ATOM Systeme lassen sich mit der integrierten LED zur Anzeige der Signalintegrität leicht installieren.
Verschiedene Lösungen mit Hochgeschwindigkeits-Interpolatoren stehen zur Verfügung, darunter das Ri Interface, das hochleistungsfähige Ti Interface und das kompakte ACi Interface in Leiterplattenausführung, die Digitalausgänge mit bis zu 1 nm Auflösung bieten.
Analoges Miniaturmesssystem
ATOM ist ein vollwertiges analoges Miniaturmesssystem für Anwendungen mit begrenzten Platzverhältnissen. Externe Interpolator-Interfaces sind mit Auflösungen bis 1 nm verfügbar.
Abtastkopf in der Ausführung mit FPC-Kabel (Flexible printed circuit)
Für eine insgesamt geringere Baugröße ist der ATOM Abtastkopf außerdem in der Ausführung mit FPC-Kabel mit geringerer Höhe in Z erhältlich. Der FPC Ausgang bietet Kunden auch die Möglichkeit, ihre eigene Verkabelung für eine einfache Kabelführung zu gestalten.
Zuverlässige Positionsmessung
Aufgrund der einzigartigen Filteroptik von Renishaw liefern ATOM Messsysteme zuverlässige Positionsmessungen mit hervorragende Signalstabilität und Schmutzunempfindlichkeit.
Finden Sie die passende ATOM Maßverkörperung
Linear
| Maßverkörperung | Produktname | Genauigkeit | Teilungsperiode | Thermischer Ausdehnungskoeffizient bei 20 °C | Max. Länge der Maßverkörperung |
Glasmaßstab  | RCLC | ±3 µm/m | 20 µm/40 µm | ~8 m/m/°C | Bis 130 mm |
 Maßband aus Edelstahl | 40 µm (hohe Genauigkeit): ±5 µm/m | 20 µm/40 µm | ~10,6 m/m/°C | Bis 10 m (> 10 m auf Anfrage) | |
Schmales Edelstahlmaßband  | RKLF-S | 40 µm (hohe Genauigkeit): ±5 µm/m 40 µm: ±15 µm/m 20 µm: ±5 µm/m | 20 µm/40 µm | Wie Installationsuntergrund, wenn Maßbandenden mit Endklemmen fixiert sind | Bis 10 m (> 10 m auf Anfrage) |
Teilrotation
| Maßverkörperung | Produktname | Genauigkeit | Teilungsperiode | Thermischer Ausdehnungskoeffizient bei 20 °C | Max. Länge der Maßverkörperung |
Schmales Edelstahlmaßband für Teilkreismessungen
| RKLF-S | ±15 µm/m | 40 µm | Wie Installationsuntergrund, wenn Maßbandenden mit Endklemmen fixiert sind | Bis 10 m (> 10 m auf Anfrage) |
Rotativ
| Maßverkörperung | Produktname | Teilungsgenauigkeit | Teilungsperiode | Thermischer Ausdehnungskoeffizient bei 20 °C | Scheibendurchmesser |
Glasscheibe  | ±0,5 (Scheibe bis zu 100 mm ø) ±0,7 (Scheibe über 100 mm ø) | 20 µm/40 µm | ~8 µm/m/°C | 17 bis 108 m |